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| 品牌 | MITUTOYO/日本三丰 | 产地类别 | 进口 |
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供应日本三丰SV-3200S4台式表面粗糙度仪
产品特点：
1.评估型表面粗糙度测量仪同时配置分析功能。
2. 装置配备FORMTRACEPAK表面粗糙度/轮廓分析程序。
3.标配高分辨率的Z1轴检出器，zui高显示分辨力为0.0001μm (测量范围为8μm时)。
4.Z1轴的zui高显示分辨力为0.0001μm (测量范围为8μm时)。
5. X轴驱动装置装配高精度玻璃光栅尺，实现X轴方向移动的高精准定位。SV-3200系列为驱动装置采用陶瓷导轨以提高抗磨性，延长使用寿命。
6.X轴的分辨力为0.05μm。
7.标准或低测力检出器(4mn/0.75mN)的选择，无需考虑设备本体是否有装配倾斜装置。
8.驱动装置中的DAT功能可以轻松调整测量工件的水平。
9.表面粗糙度测量仪SURFTEST SV-3200 系列 定位速度及精度实现了更高bg大游集团及高精度表面粗糙度测量。 更短测量时间、消除人为误差、高度耐用性。
10.通过多功能化和高bg大游集团化的新选件的组合实现了高生产能力。 实现了zui高定位速度(X轴：zui大80mm/s,Z轴：zui大30mm/s)的高精度、多功能触针式表面粗糙度测量机。
轮廓测量技术参数:
X轴
测量范围:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
检测方法:反射型线性编码器
驱动速度:80mm/s、外加手动
测量速度:0.02-5mm/s
移动方向:向前／向后
直线度:0.8μm/100mm,2μm/200mm *以X轴为水平方向上
指示精度(20°C时):±(0.8+0.01L)μm(SV-C3200S4,H4,W4) (SV-C4500S4,H4,W4)
±(1+0.02L)μm(SV-C3200S8,H8,W8) (SV-C4500S8,H8,W8) *L为驱动长度(mm)
倾角范围:±45°
Z2轴(立柱)
垂直移动:300mm或500mm
分辨率:1μm
检测方法:ABSOLUTE线性编码器
驱动速度:0-30mm/s、外加手动
Z1轴(检测器)
测量范围:±30mm
分辨率:0.04μm(SV-C3200),0.02μm(SV-C4500)
检测方法:圆弧光栅尺
指示精度(20°C时):±(1.6+I 2H I/100)μm(SV-C3200)
±(0.8+I 2H I/100)μm(SV-C4500) *H:基于水平位置的测量高度(mm)
测针上／下运作:弧形移动
测针方向:向上／向下
测力:30mN
跟踪角度:向上:77°,向下:83°
测针针尖*半径:25μm、硬质合金*
技术参数：
X1轴
测量范围:100mm或200mm
检测方法:线性编码器
驱动速度:80mm/s
移动方向:向后
直线度:(0.05+L/1000)μm(S4,H4,W4型)
0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)
Z2轴(立柱)垂直移动:300mm或500mm
分辨率:1μm
检测方法:ABSOLUTE线性编码器
驱动速度:0-30mm/s、外加手动
检测器
范围／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm(2400μm使用测头选件)
检测方法:无轨／有轨测量
测力:4mN或0.75mN(低测力型)
测针针尖:金刚石、90o/5μmR(60o/2μmR:低测力型)
导头曲率半径:40mm
检测方法:差动电感式
供应日本三丰SV-3200S4台式表面粗糙度仪
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